Analyse de Surface par Spectroscopie d'Électron Xps et par Spectroscopie d'Ions Iss ou Lei

Apports théoriques puis présentation de la technique par des exercices d’application sur le matériel du laboratoire. La formation peut être personnalisée en étant organisée sous forme d’accueil en laboratoire.

• Aspect théorique XPS, XAES Photoémission - Energie de liaison - Déplacement chimique - Analyse élémentaire et quantitative - Profondeur analysée
• ISS ou LEIS Principe théorique - Type d’information obtenue - Limite et intérêt
• Instrumentation – atelier pratique Système UHV - Paramètres expérimentaux - Echantillons, mise en place Profil par analyse destructive (abrasion ionique) et non destructive (résolution angulaire)• Exploitation – atelier pratique Identification des éléments et environnement chimique - Analyse quantitative Traitements spectraux - Effet de charge-isolants Matériels utilisés

Les ateliers, travaux et démonstrations pratiques s’effectueront sur le spectromètre VG ESCALAB 220XL. Plusieurs postes informatiques avec les logiciels seront disponibles pour les travaux dirigés.