Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie x avec un détecteur à diode (eds) associé au microscope à balayage

Stage de deux jours et demi.
Nombre de participants limité à 4.
Responsable

Zehoua Hamouche, Maître de conférence, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM



Publics et conditions d'accès
Opérateurs débutants en microanalyse élémentaire, mais expérimentés en imagerie au MEB et possédant les connaissances physiques de la théorie élémentaire sur la microanalyse X.
Des connaissances au minimum équivalentes au stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X élémentaire (personnes débutantes)" (FCEA01) sont nécessaires.
Objectifs
Mettre en oeuvre une pratique raisonnée et méthodique de la microanalyse X élémentaire au spectromètre à diode associé au microscope électronique à balayage (MEB), appliquée principalement aux matériaux métalliques.
Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles d'appareillage.
Voir aussi les formations en
Analyse des matériaux