Outils d'analyse pour les micro et nanostructures

Public et conditions d'accès
Techniciens supérieurs, responsables opérationnels, ingénieurs ou futurs ingénieurs soucieux de mieux maîtriser les dispositifs d'analyse et de diagnostic des micro et nanostructures.
Prérequis pédagogiques : une connaissance préalable des lois physiques qui gouvernent les interactions à courte distance est souhaitable. Aucun prérequis professionnel n'est exigé pour suivre cette formation, mais une expérience professionnelle, si limitée qu'elle soit, dans le domaine de l'instrumentation et de la mesure est un atout supplémentaire pour tirer un grand bénéfice de cette formation.

Objectifs pédagogiques
Maîtriser le principe et le fonctionnement des principales techniques instrumentales utilisées pour caractériser les micro et les nanostructures : microscope à force atomique (AFM), microscope à effet tunnel (STM), microscope électronique à balayage (MEB), microanalyse X...
Appréhender les différents modes de fonctionnement ; évaluer et comparer les performances correspondant à chaque technique. Savoir interpréter et exploiter les observations réalisées (analyse d'images, contraste, ...)

Compétences visées
Compétences avérées pour le choix et la manipulation des appareils dédiés à l'analyse et au diagnostic des micro et nanostructures.
Capacités à planifier et à choisir la méthode la mieux adaptée à un besoin de caractérisation. Capacité à apprécier l'utilité d'une combinaison de techniques pour établir un diagnostic exhaustif d'une structure physique à l'échelle du nanomètre.