Imagerie et mesures par afm aux interfaces électrochimiques

Public et prérequisChercheurs, techniciens, techniciens supérieurs formés en électrochimie désireux de caractériser in-situ des interfaces électrochimiques solide/liquide polarisées à l’échelle nanométrique.La méthodologie présentée ici repose sur les différents couplages de la microscopie à force atomique (AFM) avec des techniques électrochimiques appliquées sur l’échantillon ou sur la sonde AFM. Les informations ciblées à l’échelle locale sont notamment la topographie, les propriétés mécaniques et les forces en présence à ces interfaces et l’étude de leur dépendance vis-à-vis de la polarisation appliquée.