Circuits Intégrés : Testabilité et Correction d'Erreurs

Présentation
De nos jours, un constructeur d'équipements qui ne se préoccuperait pas de fiabilité s'exposerait à disparaître du marché. On risque en effet aujourd'hui de rencontrer de graves déboires en vendant ou en exploitant des matériels dont la fiabilité n'a pas été prise en compte au moment de l'étude et de la construction. Ceci est particulièrement vrai pour les choix des constitutions technologiques de composants et par l'efficacité de leur contrôle de qualité : des négligences dans ce domaine ou une méconnaissance du sujet rendent vaines toutes les autres activités de gestion de fiabilité - ou plus généralement de sûreté
de fonctionnement.

Bénéfices Comprendre la logique de positionnement économique d'un circuit vis à- vis des performances issues des tests et de la politique de correction des erreurs

Etapes suivantes
Perspective sur la sécurité des systèmes électroniques

Programme détaillé du stage: Testabilité et correction d'erreurs

Module Points clés
ECC Présentation générale des correcteurs d'erreurs Les techniques de corrections (distance inter codes, la redondance...)

Les ECC : partie théorique & la partie logique :
- Historique
- Algèbre : Ensembles finis, Groupes, Anneaux, Idéaux et Morphismes,

Théorèmes d'existence...
- Codes Correcteurs : Généralités , linéaires, polynômes, Cycliques, B.C.H, CIRC, Reed-Salomon, pour Carte à Puce
- Décodage : Linéaire, Cycliques
- Compléments : MDS...
- Algorithmes
- Exemples :Algorithme asymétrique, le RSA & l'OTP, le seul algorithme impossible à casser
- Exemple Hardware pour ECC Memory

Suite du Programme détaillé du stage: Testabilité et correction d'erreurs
Module Points clés
Testabilité

Fiabilité et qualité
Notions de fiabilité et de qualité, la stratégie de test comme levier décisif de la mise en
oeuvre des contraintes.
Testabilité et compétitivité
Lois utilisées.
Fiabilité des composants électroniques.
Programme qualité en matière de composants électroniques.

Les tests des circuits intégrés
Modélisation des fautes. Algorithmes
Analyse temporelle.
Génération de séquences de test: méthodes déterministes et probabilistes.
simulation de fautes.

La testabilité
influence du test sur la conception.
Les principes de la testabilité.
Étude de structures dédiées au test: avec test externe ("scan-path ", LSSD, [BIST, BILBO, ...).
Systèmes tolérants aux fautes.

Exemples de test de circuits intégrés
Réseaux logiques programmables.
Mémoires, microprocesseurs.

Compléments
Sécurités liées à la carte à puces ( modèle complet de sécurisation )
Aspect économique lié aux tests.
Diminution des performances mais risques éliminés