Analyse Élémentaire des Solides par Spectrométrie Optique à Décharge Luminescente : Analyse Qualitative et Quantitative de Couches Minces - Analyse Quantitative en Volume

Société Française du Vide

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Description

  • Typologie

    Formation

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    Pour professionnels

  • Lieu

    Paris

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Modalité Formation continue

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Paris ((75) Paris)
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19 Rue du Renard, 75004

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Les Avis

Le programme

Spectroscopie : émission optique, sources diverses, caractéristiques de la source à décharge luminescente.
  • Optique :
    - systèmes d'éclairage, disperseurs, détecteurs
    - spectromètres : monochromateurs et polychromateurs.
  • Acquisition et traitement du signal : soutien informatique.
  • Exemples d'installations : sources à décharge luminescente, polychromateurs.
  • Spectres :
    - raies, interférences et fond spectral
    - application à l'analyse élémentaire des matériaux : analyses qualitative et quantitative.
  • Analyse élémentaire : calibration, incertitudes, applications (analyse élémentaire quantitative en volume).
  • Examen de divers matériaux simple couche ou multicouches (conducteurs et isolants).
  • Analyse élémentaire de couches minces : caractéristiques de l'érosion par décharge luminescente, profil d'éléments en fonction de la profondeur, sources d'incertitudes, analyse quantitative.
  • Domaines d'application de la SDL : situation par rapport aux autres techniques d'analyse.

    • Trois demi-journées sont consacrées aux essais sur appareil.

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