Test et testabilité des circuits intégrés numériques

L'utilisation de circuits intégrés de taille toujours croissante (LSI, VLSI) dans les équipements grands publics et professionnels pose le problème du test de ces circuits de manière de plus en plus aiguë.Ce problème doit être pris en compte dès la conception du circuit pour réduire le coût de réalisation.Cette formation, qui est une introduction au domaine de la testabilité et du test, aborde les différentes méthodes de test existantes, la manière de les mettre en oeuvre et les outils dont disposent les concepteurs pour y parvenir.