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Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie x avec un détecteur à diode (EDS) associé au microscope à balayage

Formation

À Montpellier ()

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Description

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Missions, moyens et organisation
Le Cnam est placé sous la présidence de Jean-Paul Herteman, P-DG du groupe Safran, et dirigé par Olivier Faron.
Il remplit trois missions principales:
la formation professionnelle supérieure tout au long de la vie,
la recherche technologique et l'innovation,
la diffusion de la culture scientifique et technique.
Le Cnam offre des formations développées en étroite collaboration avec les entreprises et les organisations professionnelles afin de répondre au mieux à leurs besoins et à ceux de leurs salariés.

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Le programme

Programme 17 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss équipé d'un détecteur à diode Si(Li) à fenêtre mince et d'un système d'analyse et de traitement PGT "SPIRIT".
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Analyse qualitative
Préparation de l'échantillon, réglage du microscope, choix des paramètres d'acquisition du spectromètre, analyse et traitement du spectre.
Analyse quantitative
Choix des conditions de mesures, aspects statistiques, méthodes de correction, analyse avec acquisition sur des témoins.
Cartographie élémentaire ("image X") et profil d'analyse élémentaire.

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