Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage option matériaux métalliques

Formation

À Paris Cédex 03

Prix sur demande

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Description

  • Typologie

    Formation

  • Lieu

    Paris cédex 03

  • Dates de début

    Dates au choix

Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.


Responsable

Zehoua Hamouche, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM



Publics et conditions d'accès

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.

Prérequis :

Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.

Objectifs
Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.
Compétences visées :
Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MEB
Savoir interpréter correctement les images réalisées au MEB
Les + du stage :

• 80% de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques (maximum 4 personnes sur l’ instrument)
• Mise à disposition d’un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les différents réglages et modes d’imagerie

Voir aussi les formations en
Analyse des matériaux

Les sites et dates disponibles

Lieu

Date de début

Paris Cédex 03 ((75) Paris)
Voir plan
292 Rue Saint-Martin, 75141

Date de début

Dates au choixInscriptions ouvertes

À propos de cette formation

Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.

Prérequis :

Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.

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Les Avis

Le programme

Programme

Jour 1 :

  1. Rappels théoriques : interactions électron/matière, principe d'un MEB
  2. Introduction à la préparation d'échantillons, métallisation
  3. Formation de l'image de routine en électrons, traitement des images,
    Interprétation des images : contrastes topographique et chimique

Jour 2 :

Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, distance de travail, profondeur de champs, grandissement...) sur la résolution

Jour 3 :

  1. Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
  2. Choix optimal pour un échantillon donné

Moyens pédagogiques :

14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final

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