Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage option matériaux métalliques
Formation
À Paris Cédex 03
Avez-vous besoin d'un coach de formation?
Il vous aidera à comparer différents cours et à trouver la solution la plus abordable.
Description
-
Typologie
Formation
-
Lieu
Paris cédex 03
-
Dates de début
Dates au choix
Stage de deux jours.
Nombre de participants limité à 4.
Responsable
Zehoua Hamouche, Maitre de conférences, Equipe pédagogique Matériaux Industriels du CNAM
Publics et conditions d'accès
Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.
Prérequis :
Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.
Objectifs
Utiliser et régler de façon optimale un microscope à balayage (MEB) pour réaliser des images en métallographie et fractographie des matériaux métalliques.
Dégager les principes physiques transposables à l'utilisation d'autres modèles de microscope à balayage.
Compétences visées :
Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MEB
Savoir interpréter correctement les images réalisées au MEB
Les + du stage :
• 80% de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques (maximum 4 personnes sur l’ instrument)
• Mise à disposition d’un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les différents réglages et modes d’imagerie
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Analyse des matériaux
Les sites et dates disponibles
Lieu
Date de début
Date de début
À propos de cette formation
Opérateurs débutants, n'ayant pas encore ou très peu manipulé sur un MEB.
Prérequis :
Avoir suivi le stage "Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)" (EA01), ou posséder les connaissances théoriques physiques correspondantes.
Les Avis
Le programme
Programme
Jour 1 :
- Rappels théoriques : interactions électron/matière, principe d'un MEB
- Introduction à la préparation d'échantillons, métallisation
- Formation de l'image de routine en électrons, traitement des images,
Interprétation des images : contrastes topographique et chimique
Jour 2 :
Optimisation de l'image formée avec le détecteur d'électrons secondaires : influence des principaux paramètres (tension, courant, réglages faisceau, distance de travail, profondeur de champs, grandissement...) sur la résolution
Jour 3 :
- Images formées avec le détecteur d'électrons rétrodiffusés - Entretien du MEB
- Choix optimal pour un échantillon donné
Moyens pédagogiques :
14 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil EVO MA10 de chez Zeiss en groupe limité à quatre personnes.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.
Moyens techniques :
Tableau blanc, vidéoprojecteur
Modalités de validation :
Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final
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Pratique de l'imagerie au microscope électronique à balayage option matériaux métalliques