Conception, validation, test et diagnostic de cartes numériques
Formation
À Cesson Sevigne
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Description
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Typologie
Formation
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Lieu
Cesson sevigne
Le degré d'intégration de fonctions logiques dans des composants croît sans cesse mais les besoins en puissance de traitement logique sont de plus en plus grands. Alors que l'idéal serait de pouvoir réaliser un système complet dans un seul boîtier en utilisant une seule technologie, la réalité est généralement différente et impose l'emploi de plusieurs technologies (analogique, RF, processeur, mémoire, E/S...) dont l'assemblage sur une carte imprimée peut influer sur la fonctionnalité, les performances et la testabilité du produit complet. Ce panachage de technologies, associé aux fortes densités d'intégration, impose de nouvelles approches de validation, de test et de diagnostic.Cette formation, qui s'adresse à un public n'ayant pas nécessairement de connaissances dans le domaine de la conception et des technologies des cartes électroniques, présente globalement l'ensemble des étapes de la conception d'une carte électronique et un panorama des technologies de réalisation et de test disponibles.
Les sites et dates disponibles
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Date de début
Date de début
Les Avis
Le programme
- Conception en électronique numérique
- Concepts généraux sur les systèmes logiques, méthodologie de conception et de validation
- Technologies électroniques
- Technologies silicium (CMOS, RAM, EEPROM, Flash)
- Technologies d'assemblage ("packaging") et des circuits imprimés
- Cibles technologiques (ASIC, ASSP, μP, DSP, FPGA, SoC)
- Communications entre composants
- Composants et circuits d'alimentation (régulateurs, convertisseurs DC-DC)
- Composants de protection des E/S (surcharges, filtres ESD et CEM)
- Conception en vue du test
- Notions de testabilité, structures dédiées au test, autotest. Simulation et taux de couverture des fautes
- Boundary Scan-Path (JTAG, IEEE1149.1, .4 et .6)
- Maintenance et diagnostic des pannes
- Intégrité du signal
- Conversion temps-fréquence
- Conditions de propagation et de rayonnement des signaux, notion de CEM
- Découplage des alimentations, "Ground-Bounce", SSN
- Outils d'investigation
- Investigation externe (oscilloscopes, analyseurs logiques, émulateurs...)
- Instrumentation virtuelle par accès IEEE-1149.1 (JTAG)
- Investigation interne [SignalTap (Altera), ChipScope (Xilinx), IEEE 1500...]
- Réalisation et test de cartes électroniques
- Tests de fabrication des cartes électroniques (fonctionnel, AOI, In-Situ, Flying Prober)
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Conception, validation, test et diagnostic de cartes numériques