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Capteurs pour le contrôle industriel

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Description

  • Typologie

    Formation

Missions, moyens et organisation
Le Cnam est placé sous la présidence de Jean-Paul Herteman, P-DG du groupe Safran, et dirigé par Olivier Faron.
Il remplit trois missions principales:
la formation professionnelle supérieure tout au long de la vie,
la recherche technologique et l'innovation,
la diffusion de la culture scientifique et technique.
Le Cnam offre des formations développées en étroite collaboration avec les entreprises et les organisations professionnelles afin de répondre au mieux à leurs besoins et à ceux de leurs salariés. Cette UE apparaît dans les diplômes et certificats suivants : Entrée
CYC30p-1 Ingénieur diplômé de l'école d'ingénieurs du Cnam Spécialité mesure-analyse, parcours Contrôle industriel
Centres d'enseignement Entrée
CPN59p-1 Titre professionnel inscrit au RNCP - niveau II Responsable mesure, analyse, contrôle, qualité, parcours Instrumentation mesure
Centres d'enseignement Public et conditions d'accès Cette unité d'enseignement se trouve au niveau du cycle de spécialisation (niveau S3-S4) de la formation ingénieur, il est préférable d'avoir le niveau S1-S2 du cycle préparatoire du cursus ingénieur, toutefois les auditeurs n'ayant pas achevé le cycle préparatoire mais ayant suivi l'UE PCM 103 au premier semestre sont encouragés à s'inscrire à cette UE qui a lieu au second semestre et s'appuie sur les connaissances acquises en PCM 103. Plus généralement cette UE s'adresse à des étudiants de niveau bac +3 dans les domaines  de la mesure numérique, de la production et du contrôle industriels,  de l'électronique/automatisme, de l'instrumentation. Nécessitant peu de connaissances mathématiques spécifiques, elle permet d'acquérir des connaissances modernes sur le contrôle des chaines de production.

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Les Avis

Les matières

  • Ingénieur du son
  • Analyse de résultats
  • Production

Le programme

Contenu
Conditionnement du signal. Échantillonnage. Numérisation. Adressage. Communication.
Capteur intelligent : réalisation et fonctions. Étalonnage, sensibilité, erreurs de mesure.
Capteurs intégrés. Micro et nanosystèmes.
Capteurs de vision : barrettes et caméras CCD et CMOS, caméras infrarouges.
Capteurs pour la mécanique : capteurs de la mécanique des fluides, capteurs de pression et de forces. Mesure des chocs et vibrations.
Capteurs pour la thermique : Thermistances et thermocouples. Pyrométrie. Mesure des flux. Mesure de la conductivité et de la diffusivité.
Capteurs de rayonnements ionisants. Imagerie pour les domaines industriels et médicaux. Notions de contrôle non destructif.
Modalités de l'évaluation Au cours de cet enseignement des contrôle de connaissance ont lieu en groupe avec l'utilisation de documents et l'aide des enseignants. La discussion entre auditeurs et enseignants, au coeur de l'étude d'un exercice, conduit à la maîtrise du stress lors des examens. Ces contrôles corrigés et notés permettent d'acquérir des points intervenant dans la note de l'examen de la première session.
Un examen deuxième session est également organisé en septembre
Bibliographie
  • G. Asch : Acquisition de données du capteur à l'ordinateur. Dunod
  • M. Wautelet : Les nanotechnologies. Dunod
  • G. Gaussorgues : La thermographie infrarouge. Tec et Doc Lavoisier
  • M. Robert : Capteurs intelligents et méthodologie d'évaluation. Hermès
  • D. Blanc : Les rayonnements ionisants. Dunod

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