Applications Industrielles de l'Éllipsométrie et de la Réflectométrie X

Objectifs: Ce stage de 2 jours (comportant 50% de TP) est destiné à élargir les connaissances et les savoir-faire concernant la caractérisation des couches minces pour des applications à la mécanique, à l'optoélectronique et à l'électronique. Après un exposé des principes physiques et des méthodes expérimentales, les principales applications aux semi-conducteurs seront présentées. Destinataires: Ce stage de 2 jours (comportant 50% de TP) s'adresse aux techniciens, ingénieurs et chercheurs qui travaillent dans le domaine de l'optoélectronique, de la microélectronique et/ou de la mécanique. Niveaux I. II. III