Analyse des surfaces et des couches minces
Formation
À Paris
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Il vous aidera à comparer différents cours et à trouver la solution la plus abordable.
Description
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Typologie
Formation
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Dirigé à
Pour professionnels
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Lieu
Paris
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Heures de classe
24h
Précisions importantes
Modalité Formation continue
Les sites et dates disponibles
Lieu
Date de début
Date de début
Les Avis
Le programme
L’objectif de ce stage de trois jours et demi est de donner aux participants, ingénieurs et techniciens du milieu industriel et académique, les connaissances théoriques et l’expérience pratique qui leur permettront de sélectionner et d’exploiter la ou les techniques de caractérisation dont ils auront besoin pour résoudre un problème de surface ou de couche mince, lié à la fabrication ou à l’usage de matériaux.
Les domaines d’applications sont larges en termes de matériaux (métalliques, semiconducteurs, oxydes, polymères), de phénomènes (corrosion, oxydation, adhésion, catalyse, tribologie), de secteurs industriels (automobile, aéronautique, électronique, chimie).
Aux formations théoriques et pratiques s’ajoute une séance questions-réponses au cours de laquelle les participants au stage pourront poser à l’animateur et aux intervenants des questions sur les problèmes spécifiques auxquels ils sont confrontés.
Ils seront ainsi orientés dans leur choix de la technique d’analyse des surfaces et des couches minces appropriée.
Programme
- Introduction : Pourquoi analyser les surfaces et les couches minces ?
- Analyse chimique des surfaces par spectroscopie électronique : spectroscopie de photoélectrons (XPS / ESCA), spectroscopie Auger (AES)
- Analyse et imagerie des surfaces et des couches minces par spectrométrie ionique (SIMS)
- Analyse topographique et structurale des surfaces par microscopie à champ proche : microscopie à effet tunnel (STM) et microscopie à force atomique (AFM).
Pour chacune des techniques, le plan du cours est le suivant :
- Principe
- Instrumentation
- Exploitation des résultats
- Exemples d’application
Travaux pratiques
- démonstrations sur appareils (XPS, ToF-SIMS, STM et AFM)
- travaux dirigés portant sur l’exploitation des données obtenues par XPS, ToF-SIMS, STM et AFM.
Séance questions – réponses sur les préoccupations des participants
(exemples de questions fréquemment posées : « Voici mon problème : …, Y a-t-il une technique d’analyse des surfaces adaptée à la résolution de ce problème ? Où est-elle disponible ? Quel serait le coût des analyses ? …)
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Analyse des surfaces et des couches minces