Analyse de Surface par Spectroscopie d'Électron Xps et par Spectroscopie d'Ions Iss

Objectifs: Acquérir ou parfaire les connaissances théoriques et pratiques de base pour utiliser les techniques d'analyse de surface par spectroscopies de photoélectrons (XPS) et de rétrodiffusion ionique (ISS ou LEIS) dans une démarche d'approche quantitative morphologique des couches atomiques les plus externes. Mieux connaître les différentes applications permettant d'appréhender et résoudre des problème. Destinataires: Ingénieurs, chercheurs concernés par la caractérisation de la surface de matériaux pour diverses applications (catalyse. céramiques et verres. corrosion. polymères et polymères fonctionnalisés. matériaux composites. couches minces et revêtements. nanomatériaux. biomatériaux. etc). Pré-requis: Notions élémentaires sur les surfaces de solides (structure, morphologie, réactivité), interactions rayonnement-matière, structure électronique des éléments.)