Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse x élémentaire (personnes débutantes)

Stage de quatre jours.
Nombre participants limité à 20.
Responsable

François Brisset, Ingénieur de recherches, Université d’Orsay – Paris Sud
Organisé en collaboration avec l’Université Paris-Sud / CNRS


Publics et conditions d'accès

Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs débutant ou faux débutants dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique : métallurgistes, mécaniciens, chimistes et géologues, etc. et la microanalyse EDS.

Objectifs
Acquérir les bases théoriques et pratiques nécessaires à l’utilisation d’un microscope électronique à balayage et d’un système de microanalyse.
Identifier les divers phénomènes physiques rencontrés dans la colonne d’un MEB et lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière.
Appréhender la spectrométrie X à sélection d'énergie et l'analyse qualitative, principalement.
Repérer les techniques de préparation des échantillons.
S'initier à l'interprétation des phénomènes, des mesures effectuées et des images enregistrées.
Les +

Au cours d'une journée de démonstration sur appareils, les diverses possibilités des instruments seront passées en revue de façon pratique avec des opérateurs expérimentés.

Voir aussi les formations en
Analyse des matériaux