Lasers, interférences, polarisation

Formation

À Paris Cédex 03

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Description

  • Typologie

    Formation

  • Lieu

    Paris cédex 03

  • Dates de début

    Dates au choix

Public et conditions d'accès
Techniciens supérieurs, futurs responsables opérationnels ou futurs ingénieurs appelés à utiliser ou superviser des méthodes de mesures optiques
Une connaissance préalable des rudiments de l'optique, du niveau du secondaire ou de l'immédiat enseignement supérieur technique, est souhaitable.

Objectifs pédagogiques
L'unité d'enseignement se propose d'illustrer de nombreux dispositifs de mesure optique, à la fois sur le plan fondamental des concepts et sur le plan de la pratique expérimentale ; l'objectif est de permettre aux techniciens comme aux cadres ou futurs ingénieurs d'acquérir et de valider concrètement les bases nécessaires pour analyser les procédés optiques utilisés dans leurs domaines et pour adapter les dispositifs de mesure utilisant les techniques optiques en fonction de leurs besoins.

Compétences visées
Maîtrise des aspects fondamentaux rencontrés dans le domaine de la conception, du choix ou de l'utilisation des systèmes optiques de mesure, du capteur à la chaîne de contrôle.
Mots-clés
Polarisation de la lumière
Diffraction de la lumiere
Mesure optique
Interférence lumineuse
Lumière
Laser
Interférométrie
Optique

Les sites et dates disponibles

Lieu

Date de début

Paris Cédex 03 ((75) Paris)
Voir plan
292 Rue Saint-Martin, 75141

Date de début

Dates au choixInscriptions ouvertes

À propos de cette formation

Maîtrise des aspects fondamentaux rencontrés dans le domaine de la conception, du choix ou de l'utilisation des systèmes optiques de mesure, du capteur à la chaîne de contrôle.

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Les Avis

Les matières

  • Lumière
  • Plan de formation

Le programme

Contenu

Cours et exercices dirigés (30 heures)
Interférométrie :
Notions sur la cohérence de la lumière. Les interféromètres à deux ondes (Fizeau, Michelson, interféromètre à fibres optiques. . . ) et leurs utilisations dans le domaine du contrôle, des capteurs, de la mesure et des essais. Interférences et lames minces : les couches antireflets et les miroirs diélectriques. Les interféromètres à ondes multiples : initiation à l'interféromètre de Fabry-Perot.
La lumière polarisée :
Les divers états de polarisation de la lumière. Les phénomènes de réflexion et de réfraction. Les lames minces cristallines. La photo-élasticité. Les mesures en lumière polarisée. Notions d'ellipsométrie.
Lasers :
Emission et absorption de rayonnements par les atomes : émission spontanée et induite. Caractéristiques des raies spectrales : élargissement Doppler. Inversion de population, principe de l'effet Laser. Caractérisation spatiale et spectrale d'une source laser : modes, cohérence, directivité, largeur de raie
--
Travaux pratiques (30 heures)
: liste indicative
Interférences :
Interféromètre de Fizeau. Fentes de Young en lumière blanche. Interféromètre à fibres optiques. Interféromètre de Fabry-Perot.
Laser :
Caractérisation d'une diode laser. Mise en oeuvre d'un laser Hélium-Néon. Les modes d'un laser. Structure géométrique d'un faisceau laser.
Lumière polarisée :
Loi de Malus. Mesure de biréfringences. Photo-élasticité. Etude de la réflexion.

Modalité d'évaluation

Examen. Il est tenu compte du travail réalisé pendant la formation.

Bibliographie

  • J.Ph. PEREZ . : Optique (Masson).
  • J. SURREL : Optique instrumentale, optique de Fourier. (Ellipses 1996)
  • G. CHARTIER : Manuel d'optique Hermès. 1997.

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