Détermination des contraintes residuelles par diffraction des rayons x

Formation

À Paris Cédex 03

Prix sur demande

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Description

  • Typologie

    Formation

  • Lieu

    Paris cédex 03

  • Dates de début

    Dates au choix

Publics et conditions d'accès Ingénieurs et techniciens supérieurs des laboratoires de contrôle, d'essais et de recherche.

Ce stage est destiné à tous ceux qui n'utilisent pas encore la méthode et souhaitent connaître les techniques de base et la mise en oeuvre pratique. Il ne suppose que peu de connaissances préalables en diffraction X et en mécanique.

Les sites et dates disponibles

Lieu

Date de début

Paris Cédex 03 ((75) Paris)
Voir plan
292 Rue Saint-Martin, 75141

Date de début

Dates au choixInscriptions ouvertes

Questions / Réponses

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Les Avis

Le programme

Programme

Programme

Origine et ordres de contraintes résiduelles
Eléments de mécanique des solides
Eléments de diffraction des rayons X
Théorie de la méthode
Appareillages utilisés
Localisation des pics, calculs d'erreurs (erreurs géométriques)
Limites de la méthode
Mise en oeuvre de la méthode
Etude de cas commentée
Travaux en laboratoire, exercices
Discussion avec les chercheurs
Exemples d'applications industrielles
Approfondir les techniques de base et de mise en oeuvre pratiq
"Appareils vus à l’Ensam :
- SET-X, PROTO
- PTS SEIFERT, X’PERT PanAlytical,
Le stage proposé associe cours, exercices, travaux pratiques en laboratoire et exemples d'applications industrielles."

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