Approfondissement en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse x quantitative

Publics et conditions d'accès Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs. Toute personne devant utiliser régulièrement un MEB et une microanalyse EDS (métallurgistes, mécaniciens, chimistes -travaillant sur des matériaux tant métalliques que céramiques ou composites-, géologues, etc. Le suivi de ce stage suppose une expérience pratique professionnelle d’un minimum d’un an dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique et si possible l’acquis du niveau du stage : "Introduction à la microscopie électronique à balayage" (EA01).